多通道半導體老化測試系統(tǒng)從模塊化架構到動態(tài)溫控的配置與優(yōu)化
132半導體行業(yè)對器件可靠性的要求日益嚴格,老化測試作為驗證芯片長期穩(wěn)定性的關鍵環(huán)節(jié),其測試系統(tǒng)的配置與效率直接影響產品質量與研發(fā)周期。多通道半導體老化測試系統(tǒng)通過并行處理多個測試任務,能夠大幅提升測試...
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